Applied Numerical Methods in Characterizing Optical Nanomaterials and Nanostructures
Applied Numerical Methods in Characterizing Optical Nanomaterials and Nanostructures
- 자료유형
- 학위논문파일 국외
- 최종처리일시
- 20220210094557
- ISBN
- 9798535589442
- DDC
- 530
- 서명/저자
- Applied Numerical Methods in Characterizing Optical Nanomaterials and Nanostructures
- 발행사항
- [Sl] : The Pennsylvania State University, 2020
- 발행사항
- Ann Arbor : ProQuest Dissertations & Theses, 2020
- 형태사항
- 142 p
- 주기사항
- Source: Dissertations Abstracts International, Volume: 83-03, Section: B.
- 주기사항
- Advisor: Liu, Zhiwen.
- 학위논문주기
- Thesis (Ph.D.)--The Pennsylvania State University, 2020.
- 일반주제명
- Physics
- 일반주제명
- Collaboration
- 일반주제명
- Spectrum analysis
- 일반주제명
- Power
- 일반주제명
- Topography
- 일반주제명
- Carbon
- 일반주제명
- Electric fields
- 일반주제명
- Microscopy
- 일반주제명
- Silver
- 일반주제명
- Classification
- 일반주제명
- Numerical analysis
- 일반주제명
- Measurement techniques
- 일반주제명
- Nanomaterials
- 일반주제명
- Optical properties
- 일반주제명
- Methods
- 일반주제명
- Graphene
- 일반주제명
- Optics
- 일반주제명
- Geometry
- 일반주제명
- Nanotechnology
- 일반주제명
- Electrical engineering
- 일반주제명
- Applied physics
- 키워드
- Refractive index
- 키워드
- Layer thickness
- 키워드
- Machine learning
- 기본자료저록
- Dissertations Abstracts International. 83-03B.
- 기본자료저록
- Dissertation Abstract International
- 전자적 위치 및 접속
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