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Integrated Circuit Test Optimization for Comprehensive Defect Characterization
Integrated Circuit Test Optimization for Comprehensive Defect Characterization
Integrated Circuit Test Optimization for Comprehensive Defect Characterization

상세정보

자료유형  
 학위논문파일 국외
ISBN  
9798516068379
DDC  
621.3
저자명  
Fang, Chenlei.
서명/저자  
Integrated Circuit Test Optimization for Comprehensive Defect Characterization
발행사항  
[Sl] : Carnegie Mellon University, 2021
발행사항  
Ann Arbor : ProQuest Dissertations & Theses, 2021
형태사항  
104 p
주기사항  
Source: Dissertations Abstracts International, Volume: 83-01, Section: B.
주기사항  
Advisor: Blanton, Shawn.
학위논문주기  
Thesis (Ph.D.)--Carnegie Mellon University, 2021.
사용제한주기  
This item must not be sold to any third party vendors.
일반주제명  
Electrical engineering
일반주제명  
Computer engineering
일반주제명  
Industrial engineering
키워드  
Digital circuit testing
키워드  
Integrated circuits
키워드  
Physical failure analysis
키워드  
Chip defect diagnosis
키워드  
Adaptive test pattern reordering
키워드  
Failure extraction
키워드  
Dynamic pattern generation
기타저자  
Carnegie Mellon University Electrical and Computer Engineering
기본자료저록  
Dissertations Abstracts International. 83-01B.
기본자료저록  
Dissertation Abstract International
전자적 위치 및 접속  
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MARC

 008220131s2021        us                              c    eng  d
■020    ▼a9798516068379
■035    ▼a(MiAaPQ)AAI28497464
■040    ▼aMiAaPQ▼cMiAaPQ
■0820  ▼a621.3
■1001  ▼aFang,  Chenlei.
■24510▼aIntegrated  Circuit  Test  Optimization  for  Comprehensive  Defect  Characterization
■260    ▼a[Sl]▼bCarnegie  Mellon  University▼c2021
■260  1▼aAnn  Arbor▼bProQuest  Dissertations  &  Theses▼c2021
■300    ▼a104  p
■500    ▼aSource:  Dissertations  Abstracts  International,  Volume:  83-01,  Section:  B.
■500    ▼aAdvisor:  Blanton,  Shawn.
■5021  ▼aThesis  (Ph.D.)--Carnegie  Mellon  University,  2021.
■506    ▼aThis  item  must  not  be  sold  to  any  third  party  vendors.
■590    ▼aSchool  code:  0041.
■650  4▼aElectrical  engineering
■650  4▼aComputer  engineering
■650  4▼aIndustrial  engineering
■653    ▼aDigital  circuit  testing  
■653    ▼aIntegrated  circuits
■653    ▼aPhysical  failure  analysis
■653    ▼aChip  defect  diagnosis
■653    ▼aAdaptive  test  pattern  reordering
■653    ▼aFailure  extraction  
■653    ▼aDynamic  pattern  generation
■690    ▼a0544
■690    ▼a0464
■690    ▼a0546
■71020▼aCarnegie  Mellon  University▼bElectrical  and  Computer  Engineering.
■7730  ▼tDissertations  Abstracts  International▼g83-01B.
■773    ▼tDissertation  Abstract  International
■790    ▼a0041
■791    ▼aPh.D.
■792    ▼a2021
■793    ▼aEnglish
■85640▼uhttp://www.riss.kr/pdu/ddodLink.do?id=T16052053▼nKERIS▼z이  자료의  원문은  한국교육학술정보원에서  제공합니다.
■980    ▼a202202▼f2022

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